MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：9
- 题名/责任者:
- 实用软件测试:来自硅谷的技术、经验、心得和实例/李幸超 著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2006.10
- ISBN及定价:
- 7-121-03264-3/CNY25.00
- 载体形态项:
- 207页;26cm
- 个人责任者:
- 李幸超 著
- 学科主题:
- 软件-测试
- 中图法分类号:
- TP311.5
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP311.5/1 | B00260371 | 西校区—自然书库（西校区） | 可借 | 自然书库（西校区） | |
| TP311.5/1 | B00260372 | 西校区—自然书库（西校区） | 可借 | 自然书库（西校区） | |
| TP311.5/1 | B00260374 | 西校区—自然书库（西校区） | 可借 | 自然书库（西校区） | |
| TP311.5/1 | B00260370 | 西校区—旧书库(西校区) | 剔旧报废 | 旧书库(西校区) | |
| TP311.5/1 | B00260373 | 西校区—旧书库(西校区) | 剔旧报废 | 旧书库(西校区) |
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