MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:27
- 题名/责任者:
- 搞砸了的设计:随处可见的BAD UI/(日)中村聪史 著 邬佳笑 译
- 出版发行项:
- 北京:人民邮电出版社,2016.07
- ISBN及定价:
- 978-7-115-42805-9/CNY79.00
- 载体形态项:
- 21,221页:图;26cm
- 其它题名:
- 随处可见的BAD UI
- 丛编项:
- 图灵交互设计丛书
- 个人责任者:
- (日) 中村聪史 (1976-) 著
- 个人次要责任者:
- 邬佳笑 译
- 学科主题:
- 人机界面-程序设计
- 中图法分类号:
- TP311.1
- 版本附注:
- 由Gijutsu Hyoron Co.,Ltd.授权出版
- 提要文摘附注:
- 本书是一本BAD UI案例集,作者经过了长期的积累,收集了近200个BAD UI案例,比如搞不清是推开还是拉开的大门、让人进错洗手间的男女标识、不得不一遍遍重新填写的表格、令人不知所措的自动售票机界面或Web页面等。旨在结合照片挖掘这些失败案例背后的原因,使读者以它们为参考,学习什么样的设计会造成用户不便,进而设计出或选择到更好的UI。
- 使用对象附注:
- 设计研究人员
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
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TP311.1/4 | B00619726 | 西校区—自然书库(西校区) | 可借 | 自然书库(西校区) | |
TP311.1/4 | B00619727 | 西校区—自然书库(西校区) | 可借 | 自然书库(西校区) | |
TP311.1/4 | B00696575 | 东校区—普通书库(东校区) | 可借 | 普通书库(东校区) | |
TP311.1/4 | B00696576 | 东校区—普通书库(东校区) | 可借 | 普通书库(东校区) | |
TP311.1/4 | B00696577 | 东校区—普通书库(东校区) | 可借 | 普通书库(东校区) |
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