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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:42

题名/责任者:
硬件电路与产品可靠性设计/朱波编著
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2022.09
ISBN及定价:
978-7-302-61372-5/CNY69.00
载体形态项:
258页:图;24cm
个人责任者:
朱波 编著
学科主题:
硬件-电子电路-电子产品可靠性-电路设计
中图法分类号:
TN702
责任者附注:
朱波, 从事硬件电路和产品设计工作20余年, 担任过硬件工程师、硬件总监等职务, 在电路可靠性设计方面积累了丰富的实战经验。
提要文摘附注:
本书从硬件电路和产品设计等方面系统地论述了产品可靠性。全书内容分为6章。第1章是器件选型与可靠性设计, 详细讲述了器件选型原则、器件失效分析、元器件筛选方法、供应商管理方法。第2章从电路简化设计、接口防护、电路耐环境设计等方面阐述了硬件可靠性设计。第3章梳理了产品的硬件测试, 分别讲述了信号质量测试、信号时序测试、硬件功能测试和硬件性能测试。第4章叙述了PCB可靠性设计, 详细讲解PCB器件布局和PCB走线设计。第5章从研发过程可靠性评审来解读产品可靠性设计, 重点讲解产品研发各阶段的评审内容。第6章以一款手持智能终端的设计为具体案例, 完整地讲述了产品的研发过程和产品可靠性设计要点。
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索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TN702/3 B00800019   西校区—自然书库(西校区)     可借 自然书库(西校区)
TN702/3 B00800020   西校区—自然书库(西校区)     可借 自然书库(西校区)
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